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原始文件 （1,072 × 1,442像素，文件大小：345 KB，MIME类型：image/jpeg）
摘要
| 描述 |
English: Scanning transmission electron microscope (200 kV Jeol prototype) equipped with a 3rd-order spherical aberration corrector. |
| 日期 | uploaded 05:42, 17 November 2009 (UTC), photo taken several years earlier |
| 来源 | 自己的作品 (transfer from en.wiki) |
| 作者 | Materialscientist |
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| 日期/时间 | 缩略图 | 大小 | 用户 | 备注 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 当前 | 2011年9月12日 (一) 09:18 | | 1,072 × 1,442（345 KB） | Materialscientist | {{Information |Description ={{en|1=Scanning transmission electron microscope (200 kV Jeol prototype) equipped with a 3rd-order spherical aberration corrector.}} |Source ={{own}} (transfer from en.wiki) |Author =[[User:Materialscientist| |
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